未来産業学部プロフェッサー
志波 光晴
Mitsuharu Shiwa
- 研究分野と概要
- 担当授業科目
- 学職歴
研究分野と概要
材料の開発と使用中の信頼性を評価するためには、劣化や破壊に関するセンシングが重要です。
この分野は非破壊検査、非破壊評価と呼ばれており、人間の健康診断と同様の技術が使われています。正しく診断するためには材料の「生老病死」に対する知見と、それらの状態を測る計測技術の研究が必要不可欠となります。新たな材料開発や信頼性評価技術開発を通じて、新文明建設に貢献するとともに物質の本質に迫ります。
担当授業科目
「科学技術英語」「材料工学」
「未来産業と産業技術」「無機材料化学」「産業技術入門実習」
「産業技術実習III」「産業技術実習IV」
「未来産業学総論」「非破壊信頼性評価」（アドバンスト用）
学職歴
1981 神奈川大学経済学部経済学科 卒業
1981～1984 三興コントロール株式会社
1984～1985 東京大学境界領域研究施設
1985～1986 伊藤忠データシステム株式会社
1986～1988 日本フィジカルアコースティクス株式会社
1988～1994 東京大学先端科学技術研究センター
1990 放送大学教養学部自然の理解コース 卒業
1991 工学博士（東京大学）
1994～2006 財団法人発電設備技術検査協会 鶴見試験研究センター
2002 放送大学教養学部産業と社会コース 卒業
2006～2017 国立研究開発法人物質・材料研究機構 上席研究員
2017～現在 HSU未来産業学部
- 研究中の未来産業分野
- 所属学会
- その他、趣味、特技
研究中の未来産業分野
・「次世代モビリティ産業分野」
・「エネルギー関連産業分野」
・「理論物理・霊界科学分野」
所属学会
・日本非破壊検査協会 ・日本金属学会
・日本機械学会 ・日本材料強度学会
その他、趣味、特技
走ろう会
主な成果発表
【著書】
「環境・エネルギー材料ハンドブック」、オーム社、(2014)
「非破壊検査工学業書」、日本非破壊検査協会、(2002)
「金属便覧 改訂6版」、丸善、(2000)
「新非破壊検査便覧」、日刊工業新聞、(1992)
「ミクロの傷を追う」、丸善、(1989)
【学術誌発表】
1)M. Shiwa, M. Hayakawa, T. Hashimoto, M. Takegoshi and E. Sato, “Evaluation of Deterioration Damage for Liquid Oxygen/Hydrogen Combustion Chamber of Copper Alloy by Replica Method for Oxide Film”, Material Transactions, 61, 9(2020), 1889-1893.
2)M. Shiwa, Z. Li, T.Maeshima, Y. Koda and Y. Tanaka, “Acoustic Emission Properties of Concrete Slab During Fatigue Testing with a Running-Wheel Load”, J. of Civil Engineering and Architecture, 11 (2017), 213-221.
3)D. He and M. Shiwa, “A Magnetic Sensor with Amorphous Wire”, Sensor, 14, (2014), 10644-10649.
4)D. Bulgarevich, M. Watanabe and M. Shiwa, “Terahertz Transmission for Arrays Apertures with Simens-Star Geometry”, Applied Physics Express, 6, 3(2013), 032201-3.
5)M. Shiwa, H. Masuda, H. Yamawaki, K. Ito and M. Enoki, “In-Situ Observation and Acoustic Emission Analysis for Corrosion Pitting of MgCl2 Droplet in SUS304 Stainless Steel”, “Materials Transactions, 53, 6(2012)1069-1074.
【受賞】
平成17年 平成16年度火力原子力技術協会論文賞
平成14年 第13回 日本溶接協会「技術賞（開発奨励賞）」
平成３年 平成２年度 日本非破壊検査協会論文賞
【特許】
「鉄筋腐食検出システム」、特許第6905745号
「鉄筋コンクリートの鉄筋径とかぶりの測定方法」、特許第6843430号
「偏光可変エミッタのバイアス分布を決定する方法」、特許第6693651号
「極低温超音波疲労非破壊評価試験装置及び解析・評価方法」、特許第5923923号
「非破壊高温クリープ損傷評価方法」、特許第3728286号
「アコースティック・エミッションセンサー」、特許第2095271号、特許第2598171号、特許第2617584号